日本 Photonic‑Lattice 二维双折射评估系统 PA-micro

货号: PA-micro

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品牌: 日本 Photonic Lattice

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PA-micro 规格测量输出项目相位差（nm）、相轴方位角（）*应力值可根据数据处理方式转换（MPa）测量范围0~130纳米重复性相位差：σ < 0.1 nm 轴方位角：σ < 0.1（相位差>10纳米）传感器单元双折射像素计数2056 2464（约500万）像素测量波长520nm围栏尺寸（宽…

分类: 其他, 日本 Photonic‑Lattice,

产品详情

PA-micro 规格
	测量
输出项目	相位差（nm）、相轴方位角（°）*应力值可根据数据处理方式转换（MPa）
测量范围	0~130纳米
重复性	相位差：σ < 0.1 nm 轴方位角：σ < 0.1°（相位差>10纳米）
	传感器单元
双折射像素计数	2056 × 2464（约500万）像素
测量波长	520nm
	围栏
尺寸（宽 x 深 x 高）	270×500×610毫米
测量场大小	约140×170微米~约3.5×4.2毫米物镜：x2、x5、x10、x20、x50
体重	大约18公斤
	其他
界面	GigE（摄像机信号）
电源 / 电流消耗	AC100~240V（50/60Hz） / ~6.0A
软件	PA-View（公共广播视角）
配件	台式机，用户手册 *包括显微镜
	选项
变焦镜头	不兼容
数据处理功能	反响
宽视场校正函数	需咨询
透镜分析函数	反响
实时分析函数	反响
外部控制功能	反响
波长色散（CD）模式	不兼容
WPA高相差测量函数	不兼容
专用镜头测量台	不兼容
宾夕法尼亚和WPA的遮光罩	反响
光弹性模量测量选项	不兼容