日本 Photonic‑Lattice 二维双折射评估系统 WPA-200-XL

货号: WPA-200-XL

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品牌: 日本 Photonic Lattice

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简介

WPA-200-XL规格测量输出项目相位差（nm）、相轴方位角（）*应力值可根据数据处理方式转换（MPa）测量范围0~3500nm（用石英计算）重复性相位差：σ < 0.1 nm 轴方位角：σ < 0.1（相位差>10纳米）传感器单元双折射像素计数384 288（约110,000）像素测量波长523纳…

分类: 其他, 日本 Photonic‑Lattice,

产品详情

WPA-200-XL规格
	测量
输出项目	相位差（nm）、相轴方位角（°）*应力值可根据数据处理方式转换（MPa）
测量范围	0~3500nm（用石英计算）
重复性	相位差：σ < 0.1 nm 轴方位角：σ < 0.1°（相位差>10纳米）
	传感器单元
双折射像素计数	384 × 288（约110,000）像素
测量波长	523纳米，543纳米，575纳米
	围栏
尺寸（宽 x 深 x 高）	650×650×最大1930毫米
测量场大小	约218×290mm ~ 约360 × 480mm（标准镜头）（该型号不支持变焦镜头选项。）
体重	大约47公斤
	其他
界面	GigE（摄像机信号）
电源 / 电流消耗	AC100~240V（50/60Hz）/ ~5.0A
软件	WPA视图
配件	台式机，标准镜头，说明书
	选项
变焦镜头	不兼容
数据处理功能	反响
宽视场校正函数	反响
透镜分析函数	反响
实时分析函数	反响
外部控制功能	反响
波长色散（CD）模式	反响
WPA高相差测量函数	反响
专用镜头测量台	不兼容
宾夕法尼亚和WPA的遮光罩	不兼容
光弹性模量测量选项	不兼容