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日本 Photonic‑Lattice 二维双折射评估系统 WPA-200-L

日本 Photonic‑Lattice 二维双折射评估系统 WPA-200-L

货号: WPA-200-L
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简介

WPA-200-L 规格测量输出项目相差(nm)、相轴方位角()*应力值可通过数据处理选项转换(MPa)测量范围0~3500nm(用石英计算)重复性相位差:σ < 0.1 nm 轴方位角:σ < 0.1(相位差>10纳米)传感器单元双折射像素计数384 288(约110,000)像素测量波长523纳米…

产品详情
WPA-200-L 规格

  • 测量

输出项目
  • 相差(nm)、相轴方位角(°)*应力值可通过数据处理选项转换(MPa)

测量范围
  • 0~3500nm(用石英计算)

重复性
  • 相位差:σ < 0.1 nm 轴方位角:σ < 0.1°(相位差>10纳米)


  • 传感器单元

双折射像素计数
  • 384 × 288(约110,000)像素

测量波长
  • 523纳米,543纳米,575纳米


  • 围栏

尺寸 (宽 x 深 x 高)
  • 430 × 487 ×最大 977 毫米

测量场大小
  • 约33×44mm~约240×320mm(标准镜头) 约3.0 × 4.0mm ~ 约14.2 × 19.0mm(变焦镜头 *可选)

体重
  • 大约23公斤


  • 其他

界面
  • GigE(摄像机信号)

电源 / 电流消耗
  • AC100~240V(50/60Hz)/ ~5.0A

软件
  • WPA视图

配件
  • 台式机,标准镜头,说明书


  • 选项

变焦镜头
  • 反响

数据处理功能
  • 反响

宽视场校正函数
  • 反响

透镜分析函数
  • 反响

实时分析函数
  • 反响

外部控制功能
  • 反响

波长色散(CD)模式
  • 反响

WPA高相差测量函数
  • 反响

专用镜头测量台
  • 需咨询

宾夕法尼亚和WPA的遮光罩
  • 反响

光弹性模量测量选项
  • 反响


日本 Photonic‑Lattice 二维双折射评估系统 WPA-200-XL
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