超高速：1毫秒。 【典型值】（测量时间）
2pF/20pF 范围 5V 测量大大提高了微电容稳定性
通过检测异常测量值，即使在测量 2 个端子（4 个端子）时也能检测探头接触缺陷
4 端子触点检查：测量后/关闭可选
测量频率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波形）
串联等效电路、并联等效电路可切换
恒压测量（在某些范围内不可用）
可以测量 Tanδ（不支持 2pF 范围）
31/2 位 （1999） 数字显示屏，内置 HI/GO/LO 输出比较器功能
RS-232C 接口，打印机输出（符合 Centronics）标准（GP-IB 可选）
间歇施加测量电流以减少探头触点的磨损 [120μF/1.2mF 范围]
即使在测量过程中，也能将测量值、统计数据、日期、时间等输出到打印机
测量范围和基本精度（D<0.1，环境温度23°C±5°C）
| 测量范围 | 测量范围 | 最低分辨率 | 准确性 | 测量电压 |
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| 2p华氏 | 0.000pF~1.999pF | 0.001pF | ±RDG 的 1.0%±在 5digitxa 内 | 1kHz，1V±5% [均方根] | 1kHz，5V±5V% [rms] |
| 20pF | 0.00pF~19.99pF | 0.01pF | ±0.25 的 RDG±在 3digitxa 内 |
| 200pF | 0.0pF~199.9pF | 0.1pF | ± 0.2digitxa 内 RDG± 的 2% | —- |
| 2nF | 0.000nF~1.999nF | 0.001nF | RDG 的 ±0.2%±在 2 位以内 | —- |
| 20nF | 0.00nF~19.99nF | 0.01华氏度 | —- |
| 200nF | 0.0nF~199.9nF | 0.1nF | —- |
| 2微华氏度 | 0.000μF~1.999μF | 0.001微华氏度 | 120Hz、0.5V±5% [rms] |
| 20微华氏度 | 0.00μF~19.99μF | 0.01微华氏度 | ± 0.3 位 RDG 的 3%±在 3digitxa 内 |
| 120微华氏度 | 0.0μF~119.9μF | 0.1微华氏度 | ±RDG 的 1.0%±在 5digitxa 内 | 1kHz，1V+5%~-15% [rms] | —- |
| 200微华氏度 | 0.0μF~199.9μF | 0.1微华氏度 | RDG 的 ±0.5%±在 3digitxa 内 | —- | 120Hz、0.5V±5% [rms] |
| 1.2毫华氏度 | 0.000mF~1.199mF | 0.001毫华氏度 | ± 1.5 位 RDG 的 5%±在 5digitxa 内 | —- | 120Hz、0.5V+5%~5%~-25% [rms] |
※0.1<d<1の場合は、25d 100(%)が上記確度に加算されます。="" α：fast="" 時２(2pf レンジ="" 1vの時 α="10)" slow="" 時(2pf レンジ=""
| 测量方法 | 3/5 端子测量方式 [每个范围可选择] |
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| 测量频率 | 120Hz/1kHz±0.1%，正弦波形 |
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| 测量信号输出 cainbedance。 | 约1Ω |
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| 托盘容量校正范围 | 约 30pF |
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| 满量程和零温度系数 | ±在100ppm/°C以内 |
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| 测量温度 | [自由运行周期]FAST：约 1~5 次/秒
SLOW：FAST×N（N：设置平均值的次数） |
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| [被测信号 [FAST]] 1 毫秒 [最快] |
| 比较器设置范围 | 电容：HI/LO 均为 1999 [120μF/1.2mF 范围内的 HI/LO 均为 1199]电容：99.9% |
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| 使用环境 | 温度：0°C~+50°C，湿度：85%以下 |
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| 所需功率 | AC85V~265V，50~60HZ，约50VA |
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| 尺寸 | 333（W）×99（H）×300（D）mm（不包括橡胶脚垫等突起物。 ) |
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| 重量 | 约 4 公斤 |
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| AE-365E 机身 |
| [RS-232C标准] |
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| 选择 | ・GP-IB考试 | [如果选择 GP-IB，则无法安装 RS-232C。 ] |
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* 规格如有更改，恕不另行通知。
